PCB的過(guò)程包括一個(gè)關(guān)鍵的測(cè)試階段。每個(gè)電路板在離開(kāi)中心之前必須經(jīng)過(guò)測(cè)試，以確保制造商能夠檢測(cè)到每一個(gè)電氣或電路問(wèn)題。當(dāng)一個(gè)PCB通過(guò)這個(gè)測(cè)試時(shí)，它進(jìn)一步確保其可靠性。最常見(jiàn)的測(cè)試方法包括電路板測(cè)試（ICT）和飛針測(cè)試（FPT）

飛針測(cè)試是一種在制造過(guò)程中使用探針進(jìn)行電子印刷電路板測(cè)試的高精度和有優(yōu)勢(shì)的選擇，隨著小型電子產(chǎn)品的增加，它越來(lái)越受歡迎。了解更多關(guān)于飛針測(cè)試及其好處。

什么是飛針測(cè)試？

飛針測(cè)試是指使用“飛”向測(cè)試點(diǎn)的探針在制造過(guò)程中測(cè)試電子印刷電路板的過(guò)程。

飛針測(cè)試儀利用一個(gè)或多個(gè)測(cè)試探針。這些探針可以從上下兩個(gè)方向接觸電路板上的測(cè)試點(diǎn)。它們?nèi)缓笤陔娐钒迳蠌囊粋€(gè)位置移動(dòng)到另一個(gè)位置，以測(cè)試多個(gè)導(dǎo)線或元件。

它們按照一個(gè)程序的指示進(jìn)行操作，該程序概述了正在進(jìn)行測(cè)試的特定電路板。這些機(jī)器使用高精度的針來(lái)確保PCB正常運(yùn)行。這些系統(tǒng)不需要任何測(cè)試夾具或定制工具。探針在訪問(wèn)電路板方面幾乎沒(méi)有限制，可以測(cè)試具有無(wú)數(shù)導(dǎo)線的電路板。這使得飛針測(cè)試成為早期開(kāi)發(fā)階段的電路板的一種具有成本效益的選擇。FPT也非常適用于低到中等產(chǎn)量的生產(chǎn)。

許多人認(rèn)為飛針測(cè)試是測(cè)試印刷電路板的最經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的方法。它可以進(jìn)行以下非動(dòng)力測(cè)試：

電容

二極管檢查

電感

斷路

電阻

短路

這種測(cè)試方法已經(jīng)存在了20多年，比其他方法如電路板測(cè)試更長(zhǎng)。

什么是測(cè)試架測(cè)試？

測(cè)試架測(cè)試是指使用單獨(dú)的探針與印刷電路板上的每個(gè)測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸的系統(tǒng)。它們檢查任何組裝缺陷和正確的功能。

ICT更適合于大批量生產(chǎn)，因?yàn)槊總€(gè)PCB的組裝都需要定制測(cè)試夾具。由于印刷電路板組裝的復(fù)雜性，這些夾具通常非常昂貴。

無(wú)論是電路板測(cè)試還是飛針測(cè)試，都是測(cè)試PCB性能的有效系統(tǒng)。

飛針測(cè)試的工作原理

飛針測(cè)試過(guò)程相對(duì)簡(jiǎn)單，可以分為以下三個(gè)步驟：

第一步 在開(kāi)始之前，您必須創(chuàng)建一個(gè)飛針測(cè)試的測(cè)試程序。測(cè)試程序通常在離線PC上使用測(cè)試程序生成應(yīng)用程序開(kāi)發(fā)。這些應(yīng)用程序通常需要以下組裝：

Gerber文件 物料清單（BOM） 電子計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)（ECAD）文件 BOM應(yīng)該是EXCEL格式，而ECAD文件需要是CAD文件。

第二步 創(chuàng)建測(cè)試程序后，就可以將其加載到測(cè)試儀器內(nèi)的傳送帶上。電路板在傳送帶上移動(dòng)到測(cè)試區(qū)域，在那里進(jìn)行探針操作。電路板可能是單個(gè)的，也可能有多個(gè)，測(cè)試將取決于程序控制。

第三步 探針可以根據(jù)測(cè)試程序在電路板上“飛行”。它們使用測(cè)試信號(hào)在電路板的各個(gè)點(diǎn)上進(jìn)行電氣和功能測(cè)試。測(cè)量結(jié)果將進(jìn)一步處理，以確定特定電路部分是否符合預(yù)期。

如果電路板未達(dá)到預(yù)期結(jié)果或偏離了設(shè)定的程序，探針將發(fā)出信號(hào)表示該單元存在缺陷，因此未通過(guò)測(cè)試。

飛針測(cè)試的9個(gè)優(yōu)勢(shì)

利用飛針測(cè)試有許多優(yōu)點(diǎn)。以下是將飛針測(cè)試納入印刷電路板組裝過(guò)程中的一些最重要的好處：

成本效益

與電路板測(cè)試等替代方法相比，飛針測(cè)試是一種更具成本效益的方法，特別是在對(duì)小規(guī)模產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試時(shí)。

前期成本低

與電路板測(cè)試相比，飛針測(cè)試的前期成本較低，因?yàn)轱w針測(cè)試沒(méi)有與測(cè)試夾具相關(guān)的費(fèi)用。

適用于小到中等規(guī)模的生產(chǎn)

由于開(kāi)發(fā)成本低、開(kāi)發(fā)時(shí)間短，飛針測(cè)試非常適合低產(chǎn)量生產(chǎn)。盡管它們不適合大規(guī)模生產(chǎn)，但仍可以用于樣品和原型。

更大的靈活性

飛針測(cè)試的自動(dòng)化使得可以更靈活地進(jìn)行測(cè)試更改。盡管在一些更復(fù)雜的測(cè)試上有一些限制，但這種方法仍然有益。

準(zhǔn)確性和精度

測(cè)試探針可以精確定位，具有很高的準(zhǔn)確性和可靠性。飛針?lè)浅＞_，有助于防止成品出現(xiàn)問(wèn)題。

短的開(kāi)發(fā)時(shí)間

飛針測(cè)試的運(yùn)行時(shí)間根據(jù)其大小而變化。在大多數(shù)情況下，每塊電路板的測(cè)試時(shí)間大約為五到十五分鐘。

高科技功能

飛針測(cè)試開(kāi)始包括相位差測(cè)量（PDM）單元和微短路檢測(cè)等高科技功能。

較少的定制工具

飛針測(cè)試不需要像電路板測(cè)試那樣的定制工具，這降低了前期成本和啟動(dòng)時(shí)間。

最佳檢查

由于其極高的準(zhǔn)確性，您可以將飛針測(cè)試與自動(dòng)光學(xué)檢查（AOI）結(jié)合使用，以確認(rèn)每個(gè)零件在印刷電路板上的正確格式和放置。

FPT的其他考慮因素

在使用飛針測(cè)試時(shí)，還有一些因素需要考慮，以提高其準(zhǔn)確性并減少對(duì)PCB的損壞風(fēng)險(xiǎn)，包括以下內(nèi)容：

清潔度

保持測(cè)試區(qū)域的清潔對(duì)于減少測(cè)試時(shí)間并提高結(jié)果的可靠性至關(guān)重要。

尺寸

通過(guò)將訪問(wèn)點(diǎn)保持在靠近位置，特別是對(duì)于大型電路板，可以縮短測(cè)試時(shí)間。

探針接觸點(diǎn)

具有易于訪問(wèn)的探針接觸點(diǎn)可以降低成本并縮短測(cè)試時(shí)間。